看完這里,低對比度分辨力檢測模體你會(huì )用了嗎
點(diǎn)擊次數:1130 更新時(shí)間:2021-05-18
低對比度分辨力檢測模體也叫分辨率測試卡,用于測量X射線(xiàn)系統的分辨率,以保證X射線(xiàn)系統在微米和納米焦點(diǎn)的圖像質(zhì)量。是由黑色和白色的線(xiàn)組成,頻率不一,分布在不同的水平和垂直方向。
使用方法:
1、首先就需要確定好低對比度分辨力檢測模體標版的材料、尺寸、倍數。
2、安裝測試卡。一般講測試卡安裝在平滑墻面上,固定好測試卡即可使用。
3、然后根據測試卡的尺寸來(lái)確定拍攝距離。原則上應該選擇能讓有效高度正好充滿(mǎn)畫(huà)面的測試卡。
拍攝范圍的選取應該注意:
a.測試卡有效高度充滿(mǎn)畫(huà)面時(shí),測試卡的4:3區域也應該正好充滿(mǎn)畫(huà)面。在取景偏大或偏小的情況下,應盡量使4:3區域中的J1、K1、J2、K2、JD、KD處于畫(huà)面中心。
b.測試四角分辨率時(shí),要分別將四角上的十字型測試單元置于畫(huà)面角落。實(shí)際操作可以將低對比度分辨力檢測模體16:9端線(xiàn)貼在畫(huà)面外框,測量這一端上下兩個(gè)角的分辨率,再測另一側兩個(gè)角的分辨率。
4、鏡頭設置
鏡頭設置包括曝光時(shí)間、白平衡、亮度、色彩、Gamma校正、拍攝模式攝像鏡頭在進(jìn)行測試時(shí),需要選擇預設定的模式,采用默認的設置拍攝即可。若果在特殊效果下拍攝測試,就需要給出說(shuō)明。